• Équipements propres à l’unité

RMN

  • Spectromètre solide Bruker AV 300 : guillaume.laurent[at]sorbonne-universite.fr, planning
    • Sonde statique 5mm (1H ou X)
    • Sondes CP-MAS
      • 7mm 1H-X,
      • 4mm 1H-X, 4mm 1H-X (MQ), 4mm 1H-X (HR-MAS), 4mm 1H-X-Y
      • 2.5mm (1H / 19F)-X
  • Spectromètre solide/liquide Bruker AV 300 : andrei.nossov[at]sorbonne-universite.fr
    • Sonde statique
      • HP 10mm 129Xe
      • CP 1H-X
    • Sondes CP-MAS
      • 7mm 1H-X
      • 4mm 1H-X
    • Sonde liquide BBO 5mm 1H-X-2H
  • Spectromètre liquide Bruker AVIII 300 : francois.ribot[at]upmc.fr, planning
    • Sonde BBFO 5mm X-1H avec gradient z (50G/cm)
    • Sondes 5mm « fort gradient » (1200 G/cm)
      • Diff30L (13C-1H-2H)
      • Diff30 avec les inserts X/2H (X = 7Li, 19F, 31P, 23Na, 133Cs) ou 119Sn/1H

Microscopies

  • Microscope électronique en transmission Tecnai spirit G2 : patrick.le_griel[at]sorbonne-universite.fr et gervaise.mosser[at]sorbonne-univesite.fr, planning
    • Caméra Gatan Orius,
    • EDX
    • Module Low-dose
    • Module de tomographie
    • Module complet de cryo-microscopie
    • Porte-objets : simple tilt, double tilt, trois positions, cryo
  • Microscopie électronique à balayage Hitachi S-3400N : isabelle.genois[at]sorbonne-univesite.fr, planning
    • Vide partiel possible
    • Détecteurs d’électrons secondaires (SE) et rétrodiffusés (BSE) en vide secondaire et détecteur d’électrons secondaires en vide partiel (ESED)
    • Détecteur de rayons X
    • Analyse EDX (Oxford Instruments – X-max)
  • Microscopie à force atomique : marco.faustini[at]sorbonne-universite.fr)

Techniques de diffusion

  • Diffusion Dynamique de la lumière (DLS), Potentiel ZETA (thibaud.coradin[at]upmc.fr)
  • Diffusion des rayons X

Analyses thermiques

  • DSC (-150°C/500°C) TA DSC 2010,
    • Système de refroidissement LNCA
    • Module d’analyse thermique simultanée ATG/DSC (1500°C) TA SDT 2960 ATG/ATD (1500°C) Netzsch STA 409
  • DSC modulée TA Q20 (de -180°C à 725°C)  nora.abdoul-aribi[at]upmc.fr

Adsorption-désorption d’azote (B.E.T)

  • ASAP 2010 (cecile.roux[at]upmc.fr, andrei.nossov[at]upmc.fr)
  • Belsorp max


Conductivité électrique, mesures électrochimiques

Spectroscopies

  • Spectromètre infra-rouge (FT-IR) (nora.abdoul-aribi[at]upmc.fr)
  • Spectromètre UV-Visible UVIKON SECOMAM (thibaud.coradin[at]upmc.fr)
  • Spectromètre UV-Visible-nIR CARY 5000 – Agilent Technologies (olivier.durupthy[at]upmc.fr)
  • Spectropolarimètre CD-UV (carole.aime[at]upmc.fr)
  • Fluorimètre HORIBA Jobin-Yvon (lionel.nicole[at]upmc.fr)

Ellipsométrie (cedric.boissiere[at]upmc.fr)

 

Procédés de mise en forme

  • Dip coater
  • Spin coater
  • Aérosol (cedric.boissiere[at]upmc.fr)
  • Electro-spinneur
  • Séchage hyper-critique : BAL-TEC 030 Critical Point Dryer
  • Lyophilisateur (sylvie.masse[at]upmc.fr)
  • Extrudeuse / Mélangeur

Fours

  • Fours micro-onde  olivier.durupthy[at]upmc.fr
    • Anton Paar Multiwave 3000 avec Rotor XF100 Tmax 250, Pmax 60 bar
    • Milestone MicroSYNTH
  • Fours pyrolyse (corinne.chaneac[at]upmc.fr)

Boites à gants (MBrawn) (laurence.rozes[at]upmc.fr, francois.ribot[at]upmc.fr)

  • Sèche (H2O < 0,5 ppm)
  • Inerte (H2O < 0,5 ppm et O2 < 0,5 ppm)

Analyses Mécaniques

  • Machine d’essais en traction Instron
    • 2 cellules de force
    • Enceinte climatique
  • Rhéomètre avec module DMA (Analyse mécanique dynamique) Anton Paar

 

Plateformes mutualisées de l’IMPC (FR 2482)
page des plateformes du site de l’IMPC

 

Diffraction et diffusion des Rayons X (mohamed.selmane[at]upmc.fr)

  • Diffractomètres sur poudre en réflexion
    • Tube CuKα (1.54 Å)
  • Appareil de SAXS

RMN

  • Spectromètre RMN solide 700 SB (US++) BRUKER Avance III
    • Sondes:Trigamma3.2mmLowgamma;MAS:1H-X-Y;X=23Na-29Si,Y=15N-43Ca;Tri gamma 3.2 mm High gamma ; MAS : 1H-X-Y ; X = 31P-13C, Y = 23Na-15N ; Ultrafast MAS 1.3 mm ; MAS : 1H-X ; 31P-77Se Statique – Trigamma ; ; Ultrafast MAS 1.3 mm ; MAS : 67 kHz; 1H-X
    • Accessoires : BCUX extrême
  • Spectromètre RMN solide 500 WB (US) BRUKER Avance III
    • Amplificateurs : H1000, X1000, X500
    • Accessoire : BCU-extrême
    • Sondes:7mm;MAS:1H-X;X=15N31PDVT;4mm;MAS:1H-X;X=15N31P;DVT;4mm triple ; MAS 1H-X-Y ; X 31P ; Y 29Si 65Cu ; DVT2.5 mm ; MAS : 1H-X ; X = 13C 31P DVT
  • Spectromètre RMN liquide 500 SB BRUKER AVIII
    • Sondes : BBI (1H-X) 5mm avec gradient z (50G/cm) ; BBO (X-1H) 10mm avec gradient z (30G/cm)

Microscopies électroniques

  • MET JEOL 2100 PLUS
    • Tension d’accélération : 200 KV – Résolution : 1.9 Angstrom
    • Analyseur EDS (SDD 80 mm2-Oxford, logiciel AZtec)
    • Spectromètre de perte d’énergie (GIF) pour l’imagerie filtrée (EFTEM)
    • Spectromètre (EELS)
    • Système de balayage du faisceau (STEM)
    • Détecteur à fort angle pour le champ sombre annulaire (HAADF)
    • Caméra CCD Gatan (Orius) – Logiciel Gatan
  • MET JEM 2011 UHR/EDX
    • Tension d’accélération : 200 KV Résolution : 1.9 angstrom
    • Analyseur EDS (PGT)
    • Système de balayage du faisceau (STEM)
    • Caméra CCD Gatan (Orius) – Logiciel Gatan (Digital micrograph)
  • MET JEM 1011
    • Tension d’accélération : 100 kV – Résolution : 3 angstrom
    • Caméra Gatan (Orius) – Logiciel DigitalMicrograph
  • SEM-FEG HITACHI SU-70
    • Détecteurs d’électrons secondaires (SE) (résolution 1 nm à 15 kV ; 2,5 nm à 1kV) et rétrodiffusés (BSE) en vide secondaire
    • Détecteur en sélection de rayons X (EDX) : Oxford X-Max 50 mm2, logiciel INCA

Spectroscopie de Photoélectrons X

  • Spectromètre Omicron Nanotechnology
    • Analyseur hémisphérique
    • Détection à 128 microcanaux
    • Source de RX alfa (1486.6 eV) monochromatée